配備兼顧低能量分散，高亮度和探針電流穩(wěn)定的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍·采用超高真空樣品室，減少樣品受到污染的影響·特別設(shè)計(jì)的強(qiáng)度框架和隔音罩，在多種安裝環(huán)境下都有很好的性能
查看詳細(xì)兼具臺(tái)式電鏡的簡(jiǎn)單快捷，圖像分辨率高達(dá)4 nm。同時(shí)具有機(jī)型的品質(zhì)圖像性能和更加完善的自動(dòng)化功能，可滿足更廣大用戶的需求。
查看詳細(xì)本產(chǎn)品沿用已經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的 GUI 界面，另外還搭載了廣受好評(píng)的 SEM MAP 功能。超大視野光學(xué)導(dǎo)航系統(tǒng)※為操作人員提供更加順暢的操作體驗(yàn)
查看詳細(xì)? 搭載新型熱場(chǎng)鏡筒，分辨率達(dá)到 0.9 nm@30 kV 和2.5 nm@1 kV ? 升級(jí)型號(hào)SE Plus 具有更強(qiáng)的低加速電壓性能 分辨率達(dá)到1.6 nm@1 kV（著陸電壓） ? 標(biāo)配高靈敏度4+1分割半導(dǎo)體背散射電子探測(cè)器，支持低加速電壓觀察
查看詳細(xì)隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8700作為一款面向新時(shí)代的SEM,在日立電鏡貫有的高圖像質(zhì)量和高穩(wěn)定性的基礎(chǔ)上，增加了包括自動(dòng)獲取數(shù)據(jù)等高通量的功能。
查看詳細(xì)XRF全檢系統(tǒng)可進(jìn)行全自動(dòng)在線分析，可對(duì)大批量生產(chǎn)、處理的產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)100%的質(zhì)量控制。（XRF）分析是一種已經(jīng)過(guò)實(shí)地驗(yàn)證的分析技術(shù)，通常用于對(duì)產(chǎn)品的合金的牌號(hào)和化學(xué)成份進(jìn)行快速無(wú)損驗(yàn)證。，可方便地整合到新建的或已有的由PLC（可編程邏輯控制器）控制的處理系統(tǒng)中。這款已經(jīng)得到CE認(rèn)證的系統(tǒng)可在工業(yè)環(huán)境中連續(xù)7天24小時(shí)全天候使用：除了粉塵與濕氣以外，還可以經(jīng)受住極強(qiáng)的震動(dòng)、電磁與聲學(xué)噪聲。
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